Le microscope électronique en transmission JEOL JEM-F200 est un microscope polyvalent, offrant différentes possibilités d’imagerie en MET et en mode STEM, ainsi que des capacités d’analyse chimique quantitative par EDX.

L’instrument se distingue par une configuration particulièrement adaptée aux études structurales par diffraction électronique, grâce à son système de précession électronique ASTAR, à son système d’illumination à trois lentilles condenseurs ainsi qu’à l’intégration d’un détecteur à électrons directs.

Le microscope est installé depuis fin juillet 2026 au sein de la PMEL, dans le bâtiment de l’Institut Chevreul. Cet équipement a été acquis grâce au projet CPER CHEMACT, financé par la Région Hauts-de-France, la MEL (métropole européenne de Lille), l’Etat et le FEDER (Fonds européen de développement régional).

Principales caractéristiques

  • Source d’électrons: source à émission de champ de type froid (CFEG).
  • Tensions d’accélération: 60, 120 et 200 kV.
  • Système d’illumination : système à quatre niveaux permettant de contrôler indépendamment la taille et le courant de la sonde, ainsi que l’angle de convergence.
  • Lentille objective : lentille objectif haute résolution, avec une distance entre les pièces polaires compatible avec la tomographie électronique.
  • Résolution : à 200 kV, la résolution est de 0,16 nm en mode STEM et de 0,23 nm en mode TEM, en imagerie point par point.
  • Goniomètre : le goniomètre porte-échantillon SPECPORTER permet l’insertion automatique du porte-objet.
  • Détection EDX : deux détecteurs EDX rétractables de type SDD, sans fenêtre, positionnés à 90° l’un par rapport à l’autre, permettant d’atteindre un angle solide de collecte d’environ 1,7 sr.
  • Détecteurs STEM : trois détecteurs sont disponibles : HAADF, BF et  détecteur annulaire segmenté SAAF.
  • Différentes caméras sont disponibles pour l’imagerie en mode TEM et pour la diffraction, notamment pour les expériences de 4D-STEM : Caméra CMOS Sight Sky,  caméra rétractable à détection directe d’électrons MerlinEM et caméra CMOS BASLER : filmant l’écran phosphorescent du MET.
  • Système de précession électronique : Le microscope est équipé d’un système de précession électronique NanoMEGAS DigiSTAR P2010, permettant de faire varier la vitesse de rotation du faisceau de 0,2 à 200 Hz.
  • Trois types de porte-objets sont disponibles : (i) un porte-objet analytique à double inclinaison (double tilt) en béryllium ; (ii) un porte-objet à simple inclinaison (single tilt) équipé de deux embouts interchangeables : un embout classique et un embout permettant une rotation de ±70° pour les expériences de tomographie ; (iii) un porte-objet à simple inclinaison permettant l’insertion simultanée de trois échantillons.