Un nouveau MEB low vacuum sur la plateforme de microscopie
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Bâtiment C6 (Campus cité scientifique)
En décembre 2015 la plateforme de microscopie s’équipé d’un nouveaux MEB à balayage. Il s'agit d'un JEOL JSM-7800F LV doté d’une source FEG. Il associe la résolution spatiale sub-nanométrique à des capacités analytiques nanométriques en EDS et la possibilité de travailler en vide dégradé. Description détaillée de l'équipement.
